Aplikacije u elektronskoj mikroskopiji

SKU: 11231

Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike. Elektroni imaju znatno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svjetlosti koja se koristi u optičkim mikroskopima, što omogućava veće uvećanje i bolju rezoluciju.

Elektronski mikroskopi dijele se na dvije osnovne kategorije: transmisione elektronske mikroskope (TEM) i skenirajuće elektronske mikroskope (SEM). Zahvaljujući visokoj rezoluciji i mogućnostima uvećanja, primjenjuju se u karakterizaciji materijala, proizvodnji poluprovodnika te biološkim i medicinskim istraživanjima.

  • Tehnike elektronske mikroskopije za karakterizaciju materijala koriste se u istraživanju baterija, polimera, katalizatora, nanočestica, vlakana i filtera, 2D materijala, geologiji, forenzici, automobilskoj industriji, istraživanjima nafte i gasa, fundamentalnim istraživanjima metala, kontroli kvaliteta i analizi kvarova.
  • Metode elektronske mikroskopije u biološkim i medicinskim istraživanjima, uključujući analizu velikih tkivnih uzoraka, krio-elektronsku mikroskopiju (krio-EM), kriotomografiju i analizu pojedinačnih čestica, primjenjuju se u strukturnoj biologiji, istraživanju zaraznih bolesti, otkrivanju lijekova, biologiji biljaka, patologiji i istraživanju raka.
  • Elektronski mikroskopi imaju važnu ulogu u razvoju poluprovodnika i unapređenju proizvodnih procesa, povećanju prinosa i metrologiji, analizi kvarova, fizičkoj i hemijskoj karakterizaciji, identifikaciji osjetljivosti na elektrostatički proboj i analizi poluprovodničkih elemenata velike snage.

TEM: TEM za meke materijale osjetljive na elektronski snop i sa niskim kontrastom

TEM: CrystalPack Module

TEM: Integrisani diferencijalni fazni kontrast

ETEM: Transmisioni elektronski mikroskop sa promjenjivim pritiskom

ETEM: Dinamičke in situ studije nanostrukturiranih materijala na atomskoj skali

ETEM: Odnos strukture i funkcije heterogenih katalizatora na atomskoj skali

TEM: Slika bez rubnih artefakata

DBeam: FIB priprema TEM uzoraka za in situ zagrijavanje u TEM-u

DBeam: Cryo-FIB stanjivanje proteinskih mikrokristala

DBeam: Spin Mill metoda za FIB obradu velikih površina

DBeam: Automatizovana priprema uzoraka velikih površina za baterije

DBeam: Utjecaj vrste jona na kvalitet FIB pripreme uzoraka

DBeam: Kompatibilnost uzoraka sa Helios 5 Hydra DualBeam sistemom

SEM: Ispitivanje potpuno hidratizovanih uzoraka korištenjem ESEM-a

SEM: Thermo Scientific™ ChemiSEM™ za geokronološke studije

SEM: Mikrostrukturna i hemijska procjena termički zaštitnih prevlaka

SEM: Karakterizacija složenih vatrostalnih materijala za proizvodnju čelika

SEM: Analiza korodirane čelične površine

SEM: Karakterizacija malahita pomoću SEM-a

SEM: Karakterizacija punioca za gume

SEM: Procjena kontaminanata u materijalima za baterije

SEM: Otkrivanje uzroka pucanja čelika tokom testa savijanja

SEM: Karakterizacija polimera ojačanih staklenim vlaknima

SEM: Karakterizacija kompleksnih uključaka u čeliku

SEM: Informacije iz svakog ugla

SEM: Elektronski mikroskop ekstremno visoke rezolucije

SEM: Magnetni materijali analizirani pomoću SEM-a