DualBeam instrumenti

DualBeam instrumenti predstavljaju skenirajuće elektronske mikroskope sa fokusiranim ionskim snopom (FIB-SEM), koji omogućavaju dobijanje strukturnih i kompozicionih informacija na nanometarskom nivou kombinovanjem precizne modifikacije uzorka fokusiranim ionskim snopom (FIB) i SEM snimanja visoke rezolucije. Ova tehnika omogućava naučnicima i inženjerima, kako u akademskim institucijama tako i u industriji, da odgovore na sve složenije izazove koji zahtijevaju karakterizaciju širokog spektra uzoraka i materijala na lokalizovanom dijelu uzorka, uz istovremeno unapređenje kvaliteta materijala od interesa. Thermo Fisher Scientific, kao lider u oblasti FIB-SEM tehnologije sa više od 25 godina iskustva u razvoju DualBeam instrumenata, nudi širok portfolio sistema sa mogućnošću automatizacije za veliki broj primjena: pripremu uzoraka za transmisionu elektronsku mikroskopiju (TEM), trodimenzionalnu karakterizaciju i karakterizaciju ispod površine uzorka, izradu nanostruktura i prototipova, in situ eksperimente i mnoge druge primjene.