XPS – Rendgenska fotoelektronska spektrometrija X-zracima

XPS spektrometri namijenjeni su naprednoj površinskoj analizi materijala. Sve veća potražnja za visokoučinkovitim i složenim materijalima dodatno povećava značaj površinskog inženjerstva. Budući da je površina materijala mjesto interakcije sa spoljašnjim okruženjem i drugim materijalima, mnogi problemi povezani sa savremenim materijalima mogu se riješiti jedino razumijevanjem fizičkih i hemijskih interakcija koje nastaju na njihovoj površini ili na granicama njihovih slojeva. Površina utiče na faktore kao što su brzina korozije, katalitička aktivnost, adhezivna svojstva, kvašenje, kontaktni potencijal i mehanizmi nastanka grešaka – da navedemo samo neke.