Elektronska mikroskopija

Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike, pri čemu elektroni imaju znatno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svjetlosti koja se koristi kod optičkih mikroskopa. Sama priroda elektrona omogućava veće uvećanje i bolju rezoluciju. Elektronski mikroskopi dijele se u dvije kategorije: transmisioni elektronski mikroskopi (TEM) i skenirajući elektronski mikroskopi (SEM). Zahvaljujući izuzetnoj rezoluciji i velikom uvećanju, našli su široku primjenu u karakterizaciji materijala, proizvodnji poluprovodnika te biološkim i medicinskim istraživanjima. Skenirajući elektronski mikroskopi (SEM) omogućavaju veoma raznovrsna ispitivanja i analizu mikrostrukturnih karakteristika čvrstih materijala. SEM omogućava snimanje slika visoke rezolucije čak i kod uzoraka velikih dimenzija. Važna karakteristika SEM-a jeste velika dubinska oštrina slike, koja uzorku daje trodimenzionalni izgled. Zahvaljujući mogućnosti posmatranja i karakterizacije heterogenih organskih i neorganskih materijala na mikrometarskoj i nanometarskoj skali, SEM je postao ključni instrument u brojnim istraživačkim oblastima – od nauke o materijalima, preko forenzike i industrijske proizvodnje, do bioloških i medicinskih istraživanja. Transmisiona elektronska mikroskopija (TEM) predstavlja tehniku snimanja slika visoke rezolucije u kojoj snop elektrona prolazi kroz tanki uzorak kako bi se formirala slika. Na elektronski snop utiču debljina i gustina uzorka, njegov sastav te, u određenim slučajevima, kristalna struktura. Transmisioni elektronski mikroskop (TEM) predstavlja idealan alat za analizu sastava i strukture na atomskoj skali. Omogućava dobijanje slika uzoraka i njihovih defekata u atomskoj rezoluciji, zajedno sa spektroskopskim podacima i difrakcionim obrascima za subnanometarske oblasti. TEM je nezamjenjiv instrument u nauci o materijalima, a razvojem krio-TEM tehnologije njegova primjena sve je značajnija i u biološkim i medicinskim istraživanjima.

SEM – Skenirajuća elektronska mikroskopija

Od prvih elektronskih mikroskopa razvijenih 1930-ih godina, skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) postala je nezamjenjiva u brojnim istraživačkim oblastima, od nauke o materijalima, forenzike i industrijske proizvodnje do bioloških ...

Pročitajte više

Desktop SEM – Desktop skenirajuća elektronska mikroskopija

Od prvih elektronskih mikroskopa razvijenih 1930-ih godina, skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) postala je nezamjenjiva u brojnim istraživačkim oblastima, od nauke o materijalima, forenzike i industrijske proizvodnje do bioloških ...

Pročitajte više

TEM – Transmisiona elektronska mikroskopija

Transmisiona elektronska mikroskopija (TEM) predstavlja tehniku snimanja visoke rezolucije u kojoj se slika formira prolaskom snopa elektrona kroz tanki sloj uzorka. Na snop elektrona utiču debljina i gustina uzorka, njegov sastav, a u ...

Pročitajte više

DualBeam instrumenti

DualBeam instrumenti predstavljaju skenirajuće elektronske mikroskope sa fokusiranim ionskim snopom (FIB-SEM), koji omogućavaju dobijanje strukturnih i kompozicionih informacija na nanometarskom nivou kombinovanjem precizne modifikacije ...

Pročitajte više

EFA sistemi

Smanjenje dimenzija komponenti, razvoj novih materijala i sve složenije strukture dovode do sve češće pojave defekata, naročito kada je dizajn elektronskih kola posebno osjetljiv na varijacije u proizvodnom procesu. Ovi nevidljivi defek...

Pročitajte više

Sistemi za modifikovanje strujnih kola

Tehnologija za modifikovanje strujnih kola (Circuit Edit Technology) omogućava brzo prototipiranje manjih izmjena dizajna u različitim fazama proizvodnje integrisanih kola (IC). Modifikacije se mogu izvoditi nakon prve silicijske revizi...

Pročitajte više

MicroCT

Mikrokompjuterska tomografija (microCT) postala je standardna metoda u istraživanjima nauke o materijalima jer omogućava efikasno dobijanje kvantitativnih trodimenzionalnih prikaza gotovo svakog uzorka. Ispitivanje se izvodi nedestrukti...

Pročitajte više

Vitrifikacija uzoraka u elektronskoj mikroskopiji

Vitrifikacija omogućava formiranje amorfne čvrste faze koja minimalno ili uopšte ne oštećuje strukturu uzorka. Priprema uzoraka ovom tehnikom od ključnog je značaja za istraživanja ćelijske i strukturne biologije, pri čemu se uzorci hla...

Pročitajte više

Detektori za elektronsku mikroskopiju

Thermo Scientific™ Pathfinder™ sistem za rendgensku mikroanalizu u skenirajućoj elektronskoj mikroskopiji (SEM), sa energetski disperzivnim spektrometrom (EDS) i talasno disperzivnim spektrometrom (WDS), eliminiše mnoge poteškoće karakte...

Pročitajte više

Aplikacije u elektronskoj mikroskopiji

Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike. Elektroni imaju znatno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svjetlosti koja se koristi u optičkim mikroskopima, što omogućava veće uvećanje i bolju r...
Pročitajte više

FAQ: Elektronska mikroskopija

Princip rada skenirajućeg elektronskog mikroskopa i transmisionog elektronskog mikroskopa

Kod obje tehnike koriste se elektroni za dobijanje slike uzorka. SEM koristi sistem elektromagnetnih zavojnica za skeniranje snopa elektrona po površini uzorka i prikuplja rasijane elektrone, pružajući informacije o površini i sastavu materijala.

TEM koristi transmisijske elektrone koji prolaze kroz uzorak, pružajući informacije o unutrašnjoj strukturi, kao što su kristalna struktura i morfologija.

Rezolucija SEM-a ograničena je na približno 0,5 nm, dok aberaciono korigovani TEM sistemi postižu rezoluciju manju od 50 pm.

Koja tehnika elektronske mikroskopije je najbolja za analizu?

Odgovor zavisi od vrste uzorka i cilja analize. Za informacije o površini uzorka (hrapavost, detekcija kontaminacije) koristi se SEM. Za određivanje kristalne strukture, mogućih strukturnih defekata ili nečistoća, TEM predstavlja jedino odgovarajuće rješenje.

Smanjenje proizvodnih rizika kroz robusnu kontrolu kvaliteta – korištenje SEM-a za određivanje kvaliteta konverzijskih prevlaka

Procjena kvaliteta prevlaka zahtijeva detaljnu morfološku analizu. SEM koristi detektor povratno rasijanih elektrona (BSE) za snimanje slika visokog uvećanja i kontrasta koje precizno prikazuju gdje je prevlaka nanesena, odnosno gdje nije. Područja bez prevlake, čak i veličine svega nekoliko mikrometara, mogu predstavljati početne tačke korozije.

Koje vrste informacija možemo prikupiti pomoću SEM-a?

Kod SEM-a se najčešće detektuju tri vrste signala: povratno rasijani elektroni (BSE), sekundarni elektroni (SE) i karakteristično rendgensko zračenje (EDS). Svaki od ovih signala pruža različite korisne informacije o uzorku.

Koje su razlike između povratno rasijanih i sekundarnih elektrona?

BSE elektroni nastaju nakon elastičnih interakcija i potiču iz dubljih slojeva uzorka, zbog čega pokazuju visoku osjetljivost na razlike u atomskom broju.

SE elektroni nastaju usljed neelastičnih interakcija i potiču iz površinskog sloja uzorka, pružajući detaljne informacije o topografiji površine.

Koje su prednosti SEM-EDS analize korištenjem Thermo Scientific™ ChemiSEM™?

Thermo Scientific™ ChemiSEM™ tehnologija omogućava potpunu kontrolu svih SEM i EDS funkcija kroz jedinstven korisnički interfejs. Sistem je uvijek aktivan i kontinuirano prikuplja EDS signal tokom rada SEM-a.

Omogućava brži pristup informacijama o elementnom sastavu zahvaljujući pristupu zasnovanom na mašinskom učenju, precizna mjerenja u širokom rasponu postavki mikroskopa te jednostavno rukovanje za sve operatere.

Šta je Thermo Scientific™ ChemiPhase™?

Thermo Scientific™ ChemiPhase™ predstavlja novu funkcionalnost Thermo Scientific™ ChemiSEM™ sistema koja omogućava analizu faza u odabranoj oblasti korištenjem statističke analize velikog broja podataka, s ciljem detekcije svih statistički značajnih spektara.

Otkrivanje i karakterizacija različitih faza sada su znatno jednostavniji i intuitivniji, bez pogrešnih rezultata izazvanih preklapanjem spektralnih maksimuma ili nedovoljnim intenzitetom signala.

Šta je Single Particle Cryo-EM?

Single Particle Cryo-EM ili Single Particle Analysis (SPA) predstavlja cryo-EM tehniku koja omogućava proučavanje biomolekula pri atomskoj ili gotovo atomskoj rezoluciji, otkrivajući dinamičke biološke procese i strukturu biomolekularnih kompleksa.

Prečišćeni proteini ili proteinski kompleksi suspenduju se u amorfnom ledu postupkom brzog zamrzavanja, čime se čuva njihova prirodna struktura.

Pomoću transmisionog elektronskog mikroskopa (TEM) snima se veliki broj 2D slika uzorka. Budući da su zamrznuti proteini nasumično orijentisani, 2D slike prikazuju uzorak iz različitih uglova, što omogućava njihovu rekonstrukciju u trodimenzionalni model visoke rezolucije.

Šta omogućava cryo-elektronska tomografija?

Cryo-elektronska tomografija (cryo-ET) omogućava trodimenzionalnu vizualizaciju ćelija, organela i makromolekulskih kompleksa u stanju koje je vrlo blisko njihovom prirodnom.

Kombinacijom kriogene prezervacije, serijskog snimanja pod različitim uglovima i računarske rekonstrukcije, cryo-ET povezuje ćelijski nivo sa rezolucijom na molekulskom nivou, otkrivajući biološku arhitekturu kakva postoji in situ.

Kontinuirani razvoj mikroskopskih tehnologija, preciznog inženjerstva i integrisanih radnih tokova doveo je do značajnog proširenja primjene cryo-ET tehnike u istraživanjima iz oblasti strukturne biologije, ćelijske biologije i razvoja lijekova.

Šta je mikrokristalna elektronska difrakcija (MicroED)?

MicroED je tehnika koja omogućava brzo određivanje strukture malih molekula i proteina u visokoj rezoluciji.

Omogućava dobijanje detalja na atomskom nivou iz pojedinačnih nanokristala (<200 nm), čak i kada se nalaze u heterogenoj smjesi. Akvizicija MicroED podataka izvodi se na cryo-TEM mikroskopu korištenjem elektrona primarnog snopa.

Budući da je riječ o difrakcionoj tehnici, uzorci moraju biti u kristalnom obliku. Proces kristalizacije isti je kao kod rendgenske kristalografije, ali se mogu koristiti znatno manji kristali jer elektroni ostvaruju mnogo jaču interakciju s kristalom nego rendgenski zraci.

Kristali veličine svega 100 nm mogu se jednostavno analizirati. Time se pojednostavljuje priprema uzorka i omogućava analiza kristala koji su premali za difrakciju drugim metodama.

Sama akvizicija može biti završena za svega nekoliko minuta, a trodimenzionalna struktura određuje se uz atomsku rezoluciju.