Brzi razvoj naprednih aplikacija za pakovanje, sve složenije međusobno povezivanje i napojni uređaji visokih performansi stvaraju izazove za lokalizaciju i analizu kvarova. Poluprovodnički uređaji koji su neispravni ili rade s lošim performansama često pokazuju abnormalnu raspodjelu toplote, što dovodi do lokalnog povećanja temperature. Thermo Scientific™ ELITE sistem koristi Lock-in IR Thermography (LIT) za precizno i efikasno lociranje ovih područja od interesa.
LIT je oblik dinamičke infracrvene (IR) termografije koji pruža znatno bolji odnos signal/šum, veću osjetljivost i višu rezoluciju u odnosu na stacionarnu termografiju. LIT se može koristiti u IR analizi za lociranje kratkih spojeva, defekata nastalih elektrostatičkim pražnjenjem (ESD), oštećenja nastalih oksidacijom, neispravnih tranzistora i dioda, kao i latch-up pojave (vrsta kratkog spoja koja se može javiti u integrisanom kolu).
Dodatna prednost LIT-a je to što se može izvoditi u ambijentalnim uslovima, bez potrebe za komorama za zaštitu od svjetlosti.
