Thermo Scientific™ Hyperion II™ sistem omogućava brzo i precizno postavljanje sondi na tranzistore radi električne karakterizacije i lokalizacije kvarova u razvoju poluprovodničkih tehnologija, povećanju prinosa proizvodnje i poboljšanju pouzdanosti uređaja.
Izuzetna stabilnost Thermo Scientific™ Hyperion II™ sistema omogućava nanosondiranje za tehnologije od 5 nm i manje.
Thermo Scientific™ Hyperion II™ sistem omogućava PicoCurrent snimanje, tehniku za brzu identifikaciju kratkih spojeva, prekida kola, mjesta curenja struje i otpora kontakata, uz osjetljivost koja je više od 1000 puta veća od kontrasta pasivnog napona.
Modul skenirajuće kapacitivne mikroskopije (SCM) omogućava lokalizaciju grešaka zasnovanu na slici za analizu SOI (silicij na izolatoru) vafera, kao i visokorezolutno profilisanje dopanta.
