Thermo Scientific™ Nexsa G2™ rendgenski fotoelektronski spektrometar (XPS) nudi potpuno automatizovanu površinsku analizu, dajući podatke za unapređivanje istraživanja i razvoja kao i za rješavanje proizvodnih problema.
Integracija XPS-a sa spektroskopijom raspršenja iona (ISS), UV fotoelektronskom spektroskopijom (UPS), spektroskopijom gubitka energije reflektovanih elektrona (REELS) i Ramanovom spektroskopijom omogućava sprovođenje prave korelativne analize.
Sistem uključuje opcije za zagrijavanje uzoraka, kao i mogućnosti prilagođavanja uzorka kako bi se povećao raspon mogućih eksperimenata. Thermo Scientific™ Nexsa G2™ sistem za analizu površine otvara potencijal za napredak u nauci o materijalima, mikroelektronici, razvoju nanotehnologije i mnogim drugim aplikacijama.
