Novi Thermo Scientific™ Spectra Ultra™ skenirajući transmisioni elektronski mikroskop ((S)TEM) čini napon ubrzanja podesivim parametrom, kao što je i struja snopa. Štaviše, njegov napredni Ultra-X EDX sistem omogućava hemijsku karakterizaciju materijala koji su previše osjetljivi na elektronski snop za konvencionalnu EDX analizu.
Thermo Scientific™ Spectra Ultra™ (S)TEM s korekcijom aberacija pruža vodeće mogućnosti karakterizacije za nauku o materijalima i primjene u analizi poluprovodnika, uz najvišu rezoluciju u širokom rasponu uzoraka.
Korisni linkovi:
Specifikacija – Spectra Ultra S/TEM za nauke o materijalima
Specifikacija – Spectra Ultra S/TEM za poluprovodnike
Electron Microscope Pixel Array Detector (EMPAD)
