Thermo Scientific™ Verios™ 5 XHR skenirajući elektronski mikroskop (SEM) pruža subnanometarsku rezoluciju u cijelom rasponu napona ubrzanja od 1 kV do 30 kV, uz odličan kontrast materijala. Visok nivo automatizacije i jednostavnost upotrebe čine ga pogodnim za korisnike svih nivoa iskustva.
Thermo Scientific™ Verios™ 5 XHR SEM omogućava snimanje nanomaterijala u visokoj rezoluciji zahvaljujući UC+ monohromatskom izvoru elektrona, koji pruža subnanometarske performanse u rasponu od 1 do 30 kV.
Osjetljivi materijali mogu se analizirati uz odlične performanse i visok kontrast pri energijama slijetanja od svega 20 eV, zahvaljujući visokoosjetljivim detektorima smještenim u koloni i ispod objektiva, filtriranju signala za rad s malim dozama i optimalnom izboru kontrasta.
Pored toga, korisnicima svih nivoa iskustva omogućava znatno kraće vrijeme do dobijanja informacija na nanometarskom nivou i visoku ponovljivost rezultata mjerenja. Velika komora pruža fleksibilnost pri izboru dodatne opreme, dok automatizacija omogućava rad SEM sistema bez nadzora.
