Thermo Scientific™ Helios 5™ DualBeam je skenirajući elektronski mikroskop s plazma fokusiranim ionskim snopom (PFIB-SEM) koji pruža izuzetne mogućnosti za nauku o materijalima, kao i za primjene u oblasti poluprovodnika.
Thermo Scientific™ Helios 5™ PFIB DualBeam omogućava 3D karakterizaciju velikih zapremina, pripremu uzoraka bez galija i preciznu mikroobradu za istraživače u oblasti nauke o materijalima.
Također omogućava lociranje defekata preciznim uklanjanjem slojeva s velikih površina bez oštećenja, brzu pripremu uzoraka i pouzdano lociranje defekata za proizvođače poluprovodničkih komponenti, integrisanih kola i uređaja za prikazivanje (display).
Korisni linkovi:
Specifikacija: Helios 5 PFIB CXe DualBeam (materials science research)
Specifikacija: Helios 5 PFIB UXe DualBeam (materials science research)
Specifikacija: Helios 5 PFIB CXe DualBeam (semiconductor analysis)
Specifikacija: Helios 5 PFIB UXe DualBeam (semiconductor analysis)
Specifikacija: Helios 5 PFIB HXe DualBeam (semiconductor analysis)
