Thermo Scientific™ Scios 2™ DualBeam (FIB-SEM) je skenirajući elektronski mikroskop (SEM) s kolonom fokusiranog ionskog snopa (FIB) ultra visoke rezolucije, koji omogućava izvanrednu pripremu uzoraka i pruža mogućnosti 3D karakterizacije za širok spektar uzoraka, uključujući magnetne i neprovodne materijale.
S inovativnim funkcijama dizajniranim za povećanje produktivnosti, preciznosti i jednostavnosti upotrebe, Thermo Scientific™ Scios 2™ DualBeam predstavlja idealno rješenje za naučnike i inženjere u naprednim istraživanjima i analizama – u akademskim, državnim i industrijskim istraživačkim laboratorijama.
Korisni linkovi:
Specifikacija: μPolisher
Specifikacija: µHeater
