Thermo Scientific™ Helios G4™ DualBeam je skenirajući elektronski mikroskop s plazma fokusiranim ionskim snopom (PFIB-SEM). Dio je četvrte generacije Helios DualBeam sistema koji predstavljaju vodeću tehnologiju u industriji.
Pruža izuzetne mogućnosti za 3D karakterizaciju velikih zapremina, pripremu uzoraka bez galija, lociranje defekata u poluprovodnicima, kao i preciznu obradu na mikrometarskom nivou.
Thermo Scientific™ Helios G4™ PFIB DualBeam kombinuje PFIB kolonu i Thermo Scientific™ monohromatsku Elstar SEM kolonu, pružajući napredne performanse ionskog i elektronskog snopa.
Intuitivni softver, u kombinaciji s visokim nivoom automatizacije i jednostavnošću upotrebe, omogućava posmatranje i analizu relevantnih zapremina ispod površine uzorka.
Korisni linkovi:
Specifikacija: Helios G4 PFIB UXe DualBeam for Materials Science
Specifikacija: Helios G4 PFIB CXe DualBeam for Materials Science
Specifikacija: Helios G4 PFIB UXe DualBeam for Semiconductors
